Можливо, ви намагаєтесь звернутися до цього сайту із захищеного браузера на сервері. Увімкніть сценарії та перезавантажте сторінку.
Увімкнення більш доступного режиму
Вимкнення більш доступного режиму
Пропустити команди стрічки
Перейти до основного вмісту
Вимкнути анімацію
Увімкнути анімацію
Увійти
The National Academy of Sciences of Ukraine
Projects of research works of young scientists of the National Academy of Sciences of Ukraine
Work is a contest participant
2021
NAS Ukraine
About NASU
Activity
Apparatus of Presidiumof NASU
Awards
Book
Book Series
Centers for Collective Use of NAS of Ukraine
Colegial
Competition
Department
International cooperation
Members
Messages
Multi-volume
NASUDepartment
Organization
Personal Site
Postgraduate and Doctoral Education
Presidium
Конкурсна робота
Вибрано
Державні нагороди та відзнаки
НАН України
Наукові та науково-популярні заходи НАН України
Наукові та науково-прикладні розробки
Центри колективного користування приладами НАН України
Red
Інформаційне наповнення сайту
bcs
Work
Так
Так
20%,80%
Impact of dielectric thickness and contact area on electrical properties of Fe / MgO / Fe system
Author (leader) -
Burlakov Viktor Oleksandrovych
G. V. Kurdyumov Institute for Metal Physics of the Nat
The project is aimed at studying the electrical properties of thin-film planar Fe/MgO/Fe systems depending on the thickness of the dielectric and the contact area. A comprehensive study is planned, in the framework of which a technique will be created and tested that will allow recording the volt-ampere characteristics of thin-film systems under the action of external loads. To do this, the device for kinetic indentation UPM-11 will be modified so that the load is applied to a pre-sharpened iron cantilever, which will be connected to the measurement circuit and act as one of the layers of the system. As a result, conditions will be created that will allow to gradually sink the ferromagnetic material into the dielectric and study the electrical properties of the system depending on the thickness of the dielectric layer. The use of cantilevers with different tip areas will allow investigating the effect of contact area on the electrical properties of the system.
©
Інститут програмних систем НАН України
, 2023