російська
Анотація:Используя известные физические модели, фотоупругость, деформации, механические напряжения, приведены методики и аппраратура для контроля структурночувствительных свойств полупроводниковых материалов и налажено промышленное изготовление аппратуры.
Читацька аудиторія:Книга предназначена для научных и инженерно-технических работников, преподавателей и студентов вузов.