Аналітичний комплекс
детектор дифракції електронів HKL Channel 5 EBSD
(OXFORD Instruments Analytical, Великобританія)
енергодисперсійний спектрометр X-Max 50
(OXFORD Instruments Analytical, Великобританія)
низьковакуумний скануючий мікроскоп JSM-6390LV
(JEOL Ltd., Японія)
Порошковий рентгенівський дифрактометр
AERIS Research Edition
(Malvern PANalytical)
Система комплексної прецизійної пробопідготовки зразків для електронної мікроскопії
Leica EM TXP
(Leica Microsystems, Німеччина)
Стенд для вимірювання світлотехнічних характеристик
інтегруюча сфера GL OPTI SPHERE 500
(GL Optic, Польща)
лазерна оптоволоконна система FC-455-10W
(CNI, Китайська Народна Республіка)
програмне забезпечення GL SPECTROSOFT v. 407 PROF
(GL Optic, Польща)
спектрорадіометр GL SPECTIS 4.0 UV VIS NIR
(GL Optic, Польща)