Можливо, ви намагаєтесь звернутися до цього сайту із захищеного браузера на сервері. Увімкніть сценарії та перезавантажте сторінку.
Увімкнення більш доступного режиму
Вимкнення більш доступного режиму
Пропустити команди стрічки
Перейти до основного вмісту
Вимкнути анімацію
Увімкнути анімацію
Увійти
Фізико-механічний інститут ім.Г.В.Карпенка
Національна академія наук України
Наукові підрозділи
Центр колективного користування приладами «Центр електронної мікроскопії та рентгенівського мікроаналізу» НАН України
Наукові кадри
Прилади
NAS Ukraine
Державні нагороди та відзнаки
НАН України
Вибрано
Академія пропонує
Апарат Президії НАН України
Аспірантури, докторантури
Багатотомне видання
Відділення
Діяльність
Доповідь на засіданні колегіального органу
Засідання колегіального органу
Кадри
Книжкова серія
Книжкове видання
Колегіальний орган
Конкурс
Конкурсна робота
Концепція
Міжнародне співробітництво
Нагороди
Наукові та науково-популярні заходи НАН України
Наукові та науково-прикладні розробки
Центри колективного користування приладами НАН України
Red
Інформаційне наповнення сайту
bcs
Прилади
Так
Так
Прилади
Скануючі електронні мікроскопи
Скануючий електронний мікроскоп EVO-40XVP, ZEISS, із системою мікроаналізу INCA Energy 350, Oxford
©
Інститут програмних систем НАН України
, 2023