Ukrainian
Summary:Даний збірник праць містить оглядові статті та окремі роботи провідних учених світу (Японії, США, Європейської Співдружності, країн Східної Європи та СНД) в галузі створення напівпровідникових шарів на підкладках ізолятора та приладів на їхній основі. На даний час саме розвиток наукових, технологічних та приладових аспектів у цій галузі – магістральний напрямок мікроелектронної[⇒] індустрії. Перш за все, це пов’язано із можливістю здешевлення технології отримання приладів та інтегральних схем на основі напівпровідникових плівок на підкладках ізолятора у порівнянні з об’ємними технологіями, а також значного покращення їхніх характеристик у порівнянні з об’ємними у екстремальних умовах (низькі та високі температури, опромінення, агресивні середовища тощо). Збірник складається із статей, присвячених наступним проблемам: технологія та економіка; технології отримання напівпровідникових плівок на ізоляторі; робота приладів напівпровідник-на-ізоляторі в жорстких умовах; радіаційні впливи; характеризація та моделювання приладів напівпровідник-на-ізоляторі, призначених для роботи в жорстких умовах; нові прилади і сенсори напівпровідник-на-ізоляторі, для роботи в жорстких умовах. Reading audience:Збірник корисний для наукових працівників та студентів, які спеціалізуються у вказаних напрямках
English
Summary:This proceeding volume contains reviews and high-quality papers in the area of semiconductor-on-isolator material and devices fabrication by key researchers from Japan, USA, European Union, Eastern European and Former Soviet Union countries. Scientific research, technologic and device development in this area belong to the main trends of the contemporary microelectronic industry.[⇒] First of all it is connected to the possibility of driving down the cost of semiconductor-on-isolator devices and IC as compared to bulk technology, and also considerable benefits of such devices as compared to bulk ones in harsh conditions (low and high temperatures, irradiation, aggressive media etc.). The volume is composed of the papers under the headings of: technology and еconomics; semiconductor-оn-insulator material technologies; reliability and operation of SOI devices in a harsh environment; radiation effects; characterization and simulation of SOI devices operating in a harsh environment; novel SOI devices and sensors operating under harsh conditions. Reading audience:The proceedings volume is useful for scientific researchers and students specializing in the indicated areas