Можливо, ви намагаєтесь звернутися до цього сайту із захищеного браузера на сервері. Увімкніть сценарії та перезавантажте сторінку.
Увімкнення більш доступного режиму
Вимкнення більш доступного режиму
Пропустити команди стрічки
Перейти до основного вмісту
Вимкнути анімацію
Увімкнути анімацію
Увійти
Інститут надтвердих матеріалів ім.В.М.Бакуля
Національна академія наук України
Наукові підрозділи
Центр колективного користування приладами «Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА)» НАН України
Наукові кадри
Прилади
NAS Ukraine
Державні нагороди та відзнаки
НАН України
Вибрано
Академія пропонує
Апарат Президії НАН України
Аспірантури, докторантури
Багатотомне видання
Відділення
Діяльність
Доповідь на засіданні колегіального органу
Засідання колегіального органу
Кадри
Книжкова серія
Книжкове видання
Колегіальний орган
Конкурс
Конкурсна робота
Концепція
Міжнародне співробітництво
Нагороди
Наукові та науково-популярні заходи НАН України
Наукові та науково-прикладні розробки
Центри колективного користування приладами НАН України
Red
Інформаційне наповнення сайту
bcs
Прилади
Так
Так
Прилади
Скануючі електронні мікроскопи
Скануючий електронний мікроскоп EVO 50XVP, ZEISS, з енергодисперсійним аналізатором рентгенівських спектрів INCA Penta FETx3 та системою HKL CHANNEL-5 для дифракції електронів, Oxford
©
Інститут програмних систем НАН України
, 2023